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   Advances in X-Ray Analysis

   C S Barrett

   Springer Verlag GmbH 21.11.2012 - 2012

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   InhaltsangabeWhole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quant...

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   Advances in X-Ray Analysis

   Charles S Barrett

   Springer Verlag GmbH 02.06.2012 - 2012

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   The 38th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 31 - August 4, ...

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   Advances in X-Ray Analysis

   John V Gilfrich

   Springer Verlag GmbH 24.10.2012 - 2012

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   The 41st Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 3-7, 1992, at the Sh...

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   Advances in X-Ray Analysis

   John V Gilfrich

   Springer Verlag GmbH 05.11.2012 - 2012

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   The 41st Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 2-6, 1993, at the Sh...

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   Advances in X-Ray Analysis

   John V Gilfrich

   Springer Verlag GmbH 31.01.1998 - 1998

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   The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at ...

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   Advances in X-Ray Analysis

   D K Bowen

   Springer Verlag GmbH 30.09.1995 - 1995

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   The 43rd Annual Conference on Applications ofX-ray Analysis was held August 1-5, 1994, at the She...

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