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   CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

   Manoj Sachdev

   SPRINGER 01.06.2008 - 2008

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   ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies

   Manoj Sachdev

   SPRINGER 26.04.2008 - 2008

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   Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

   Manoj Sachdev

   SPRINGER 04.06.2007 - 2007

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   Thermal and Power Management of Integrated Circuits

   Manoj Sachdev

   SPRINGER 01.06.2006 - 2006

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   Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

   Manoj Sachdev

   Springer Verlag GmbH 10.11.2010 - 2010

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   ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies

   Oleg Semenov

   Springer Verlag GmbH 19.10.2010 - 2010

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   Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

   Manoj Sachdev

   Springer Verlag GmbH 21.06.2007 - 2007

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   Thermal and Power Management of Integrated Circuits

   Arman Vassighi

   Springer Verlag GmbH 29.11.2010 - 2010

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   InhaltsangabePower, Junction Temperature, and Reliability.- Burn-in as a Reliability Screening Te...

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   CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

   Andrei Pavlov

   Springer Verlag GmbH 28.10.2010 - 2010

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    ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies

    Oleg Semenov

    Springer Verlag GmbH 06.05.2008 - 2008

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    CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

    Andrei Pavlov

    Springer Verlag GmbH 21.06.2008 - 2008

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    Thermal and Power Management of Integrated Circuits

    Arman Vassighi

    Springer Verlag GmbH 04.01.2006 - 2006

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    InhaltsangabeIntroduction.- Power, Junction Temperature, and Reliability.- Burn-in as a Reliabili...

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